作为中国电子设计领域颇具影响力的年度盛会，第十届电子设计创新大会（EDICON China 2025）将于4月23日-24日在北京国家会议中心盛大启幕。这场以射频/微波/无线和高速/高频设计领域为核心的活动盛宴，汇聚国内外顶尖专家与企业领袖，覆盖的多产业链议题。EDICON China特设会议和展览两部分，是洞悉前沿技术与未来趋势的绝佳窗口。
爱德万测试主题演讲
在射频芯片测试日趋复杂化的今天，射频芯片的发展趋势正向着更高频率，更宽带宽，更高集成度以及更多端口的方向快速迈进，尤其是未来20GHz 以下频段的大带宽应用场景将显著增加。这对ATE量产测试提出了前所未有的挑战。
在本次大会上，爱德万测试中国的业务发展高级经理孙佳焱将发表主题为“面向新一代射频芯片技术趋势的ATE量产测试方案“的主题演讲，他将全面解析爱德万测试最新推出的基于V93000 EXA Scale平台的Wave Scale RF20ex新射频测试板卡, 展示其多维度技术突破。WSRF20ex 支持高达20GHz 频率和2GHz 带宽，可有效应对未来射频芯片测试领域的严苛技术需求，助力产业更好地迎接高速发展的射频时代。
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