在存储技术飞速迭代的浪潮中，固态硬盘（SSD）的性能与可靠性已成为行业竞争的核心壁垒。面对海量测试场景下的效率瓶颈与潜在缺陷检测难题，置富科技以创新驱动市场，应运而生推出PCIe Gen5/Gen4/Gen3 SSD宽温智能测试设备、SATA Gen3宽温智能测试设备和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD宽温智能测试设备，以智能化、精准化、场景化的解决方案，为SSD成品测试领域注入新动能。

直击行业痛点：效率与精准的双重突破

传统SSD测试普遍面临测试用例单一、测试方案覆盖不全，极端环境模拟不足、多任务并行能力有限等挑战，测试结果需要人工介入判断，出错概率大，无法有效保障产品一致性。置富科技依托20余年的存储行业经验和技术积累，基于市场痛点和产业需求研发SSD宽温智能测试系列设备，通过近30项核心测试指令集成与智能化温控联动，实现从功能验证到极限环境模拟的全维度覆盖，充分验证SSD的可靠性和稳定性。

PCIe Gen 4 SSD智能测试设备不仅支持：

PCT断电测试

BIT老化测试

IOPS速度测试

MDT协议测试

Protocol功能测试

JEDEC TEST耐久性测试

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还能通过设置电压拉偏（±10%，精度0.05V）模拟不同的电压条件，来测试SSD在不同电压环境下的表现，确保SSD在复杂工况下的信号完整性和电源稳定性。测试完成后，一键生成可视化报告与日志，协助产品研发定位故障位置和原因分析，直观评估产品质量和可靠性使用状态。

模块架构设计：赋能企业级规模化测试

针对企业级SSD高密度测试需求，设备采用模块化架构设计，支持128~256盘位并行测试（可定制扩展），全面覆盖企业级、工业级和消费级产品验证。通过-60℃至150℃宽温域精准控制，可模拟极寒、高温、温循等真实应用场景，精准评估SSD在数据中心、工业控制以及消费电子等领域的长期可靠性，确保产品生命周期内的耐用表现。

智能操作系统：降本增效重构测试范式

置富科技突破传统测试设备的操作桎梏，通过开放式工单配置平台与Windows/Linux双系统兼容设计，用户可自由组合测试条件，灵活定制测试流程。结合网络化远程控制与自动化数据传输，实现“一键启动、全程无人值守”的智能操作模式，可大幅提高测试效率，减少人工成本，为存储制造商及研发机构提供高性价比的测试选择。

全场景应用：驱动存储产业技术升级

目前，PCIe Gen4等 SSD宽温智能测试设备已通过多家头部存储厂商的严格验证，并在消费电子、云计算、数据中心、工业自动化等领域实现规模化测试，得到市场客户广泛认可。同时，基于市场需求发展趋势，置富科技也已完成PCIe Gen5/PCIe Gen3 SSD宽温智能测试设备、SATA Gen3宽温智能测试设备和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD宽温智能测试设备的产品路线布局，形成包含SATA Gen3到PCIe Gen5全兼容测试平台的产品矩阵。

置富科技SSD宽温智能测试系列设备，不仅满足了当前市场对高性能SSD测试的需求，更为存储行业的技术创新注入了新动力。未来，置富科技将持续深化智能测试技术创新，通过构建覆盖全协议、全场景、全生命周期的存储设备验证体系，助力存储产业实现从研发验证到量产检测的全流程质量升级。