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康芯威“一种存储装置的测试系统及其测试方法”专利公布

作者: 爱集微 04-09 07:28
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来源:爱集微 #康芯威#
8472

天眼查显示,合肥康芯威存储技术有限公司“一种存储装置的测试系统及其测试方法”专利公布,申请公布日为2025年2月28日,申请公布号为CN119541608A。

本发明提供一种存储装置的测试系统及其测试方法,涉及存储技术领域,包括:测试板,用以与待测存储器通信连接,以配置对应的测试参数;以及处理器,用以与所述测试板通信连接,且被配置为:在将消息数据写入至所述待测存储器前,使其生成发生不同读写校验错误的多个待测信息值,且在将各所述待测信息值依次写入至所述待测存储器中的重放保护内存块,以进行将各所述待测信息值至所述待测存储器的读写测试,得到测试结果。本发明提供的存储装置的测试系统及其测试方法,可以应用于存储器固件RPMB处理流程开发阶段,系统与固件对测稳定性及兼容性,具有简单易操作,RPMB类型配置丰富,测试覆盖度高等优点。

责编: 赵碧莹
来源:爱集微 #康芯威#
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