天眼查显示，长鑫存储技术有限公司“内部存储器的故障修复方法及设备”专利公布，申请公布日为2024年3月12日，申请公布号为CN117687818A。

本公开提供一种内部存储器的故障修复方法及设备，该方法包括：通过预先训练得到的第一测试条件对第一内部存储器的主阵列进行故障测试，得到第一故障单元，该训练过程包括根据第二测试条件的实际故障率对第二测试条件进行调整的过程，第一测试条件是训练结束时的第二测试条件，第二测试条件的实际故障率是通过第二测试条件检测出来的故障单元在后端测试时未出现故障的概率。其中，后端测试使用的测试条件与第二测试条件不同。从而根据实际故障率训练第一测试条件可以得到更好的第一测试条件，以优化对第一故障单元的修复，有助于提高整体良率。