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力芯微“基于FPGA的串入并出逻辑电路高速测试装置”专利获授权

作者: 爱集微 2024-05-16
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来源:爱集微 #力芯微#
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天眼查显示,无锡力芯微电子股份有限公司近日取得一项名为“基于FPGA的串入并出逻辑电路高速测试装置”的专利,授权公告号为CN220913289U,授权公告日为2024年5月7日,申请日为2023年8月31日。

本实用新型涉及逻辑电路测试技术领域,具体说是基于FPGA的串入并出逻辑电路高速测试装置。它的特点是包括电源模块、MCU模块、FPGA单元和高速比较器阵列。电源模块与MCU模块、FPGA单元和高速比较器阵列适配连接。MCU模块与FPGA单元适配连接,FPGA单元与高速比较器阵列适配连接,高速比较器阵列与FPGA单元适配连接。MCU模块用于向FPGA单元发送串行测试信号、从FPGA单元中读取测试数据,并将测试数据传递给分选机。该测试装置可自动化测试,测试成本低,测试产能高。


责编: 赵碧莹
来源:爱集微 #力芯微#
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