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大普微“一种存储器参数提取方法、装置、设备及可读存储介质”专利获授权

作者: 爱集微 2024-07-10
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来源:爱集微 #大普微#
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天眼查显示,深圳大普微电子股份有限公司近日取得一项名为“一种存储器参数提取方法、装置、设备及可读存储介质”的专利,授权公告号为CN112364578B,授权公告日为2024年7月5日,申请日为2020年12月2日。

本申请公开了一种存储器参数提取方法、装置、设备及可读存储介质。本申请公开的方法包括:获取实例化有存储器参数的RTL代码文件;存储器参数包括:存储器类型、深度、位宽、部分写分组位宽标志、数据冗余标志、工作频率、每种类型的存储器个数和存储器在芯片中所占物理空间大小;调用NPI模型从RTL代码文件中提取存储器参数;生成包括存储器参数的报告文件。本申请实现了存储器参数的自动提取,可避免人工记录出错,也降低了参数提取成本,提高了参数提取效率,更为方便快捷。相应地,本申请提供的一种存储器参数提取装置、设备及可读存储介质,也同样具有上述技术效果。


责编: 赵碧莹
来源:爱集微 #大普微#
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