安路科技“芯片的同步开关噪声测试方法装置及存储介质”专利公布

作者：爱集微 02-14 06:21

来源：爱集微 #安路科技#

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天眼查显示，上海安路信息科技股份有限公司“芯片的同步开关噪声测试方法装置及存储介质”专利公布，申请公布日为2024年12月31日，申请公布号为CN119224534A。

本发明公开了一种芯片的同步开关噪声测试方法、装置及存储介质，其中方法包括：确定待测芯片的被测I O和干扰源I O；在最大驱动电流下，对被测I O进行同步开关噪声测试，获取被测I O在干扰源I O进行开关切换时的测试结果；基于测试结果和选定的驱动电流，确定选定的驱动电流对应的同步开关噪声，同步开关噪声包括低电平同步开关噪声和高电平同步开关噪声。本发明根据最大驱动电流与选定的驱动电流之间的关系，计算得到选定驱动电流对应的同步噪声测试结果，从而能够在仅测试得到最大驱动电流的情况下，快速、准确确定其他驱动电流下的芯片同步噪声测试结果，无需逐一在每一驱动电流条件下进行测试，进而能够有效提高芯片同步噪声的测试效率。