紫光同芯“一种芯片检测电路以及芯片检测方法”专利公布

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天眼查显示,紫光同芯微电子有限公司“一种芯片检测电路以及芯片检测方法”专利公布,申请公布日为2024年8月27日,申请公布号为CN119125840A。

本发明实施例公开了一种芯片检测电路以及芯片检测方法。芯片检测电路包括:ATE、单总线协议转换处理器及待检测芯片;其中,ATE与单总线协议转换处理器连接,单总线协议转换处理器与待检测芯片连接;在对待检测芯片进行第一检测时,单总线协议转换处理器将ATE与待检测芯片之间的传输数据进行单总线协议转换,通过单总线协议转换处理器进行协议转换,可以保证ATE与待检测芯片的可靠时钟通讯,从而可提高芯片检测准确性;通过单总线协议转换处理器的引入,可使ATE通过各IO通道对多个待检测芯片进行并行检测,提高芯片检测效率。


 

责编: 赵碧莹
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