天眼查显示，龙芯中科技术股份有限公司“一种针对芯片的存储单元的检测方法和装置”专利公布，申请公布日为2025年2月14日，申请公布号为CN119446245A。

本发明实施例提供了一种针对芯片的存储单元的检测方法和装置，通过生成扫描模式进入指令，并调用联合测试行为组织接口基于扫描模式进入指令控制芯片进入扫描模式；在扫描模式下，通过寄存器生成针对储存单元的扫描链；扫描链包括针对寄存器生成针对原生存储单元的第一存储内建自测试扫描链，和，针对定制存储单元的第二存储内建自测试扫描链；当判定存储单元存在故障时，通过第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对存储单元的扫描数据，并通过重置计数器获取第一计数值；基于扫描数据和第一计数值检测存储单元，实现了能够为检测存储单元提供多种诊断模式，从而提升了针对片上存储单元的检测效率。