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康芯威“一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法”专利公布

作者: 爱集微 04-05 21:15
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来源:爱集微 #康芯威#
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天眼查显示,合肥康芯威存储技术有限公司“一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法”专利公布,申请公布日为2025年2月28日,申请公布号为CN119541610A。

本发明提供一种存储器及存储器的固件下刷时间测试方法,涉及存储器技术领域,所述的存储器,包括:缓存器,用以对主机写入的待测数据进行缓存;闪存模块,用以接收在缓存器写满后继续写入的待测数据;以及主控模块,用以初始化存储器,并在待测数据写入至缓存器时,且经过延迟预设时间后,执行初始化操作,判断待测数据是否从缓存器中完整下刷至闪存模块,若否,则重新配置延迟预设时间,并将待测数据重新写入,直至待测数据完整下刷至闪存模块中。本发明提供的存储器,可以通过读写后步进式掉电的方式,来实现测试开启了cache功能的固件的数据下刷时间。

责编: 赵碧莹
来源:爱集微 #康芯威#
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*此内容为集微网原创,著作权归集微网所有,爱集微,爱原创

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