• 行业咨询
  • 品牌营销
  • 集微资讯
  • 知识产权
  • 集微职场
  • 集微投融资
  • 集微企业库
搜索
爱集微APP下载

扫码下载APP

爱集微APP扫码下载
集微logo
资讯集微报告舆情JiweiGPT企业洞察
2025第九届集微半导体大会集微视频
登录登录
bg_img
search_logo
大家都在搜

感图科技“获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”专利公布

作者: 爱集微 05-25 18:30
相关舆情 AI解读 生成海报
来源:爱集微 #感图科技#
1.3w

天眼查显示,上海感图网络科技有限公司“获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”专利公布,申请公布日为2025年3月14日,申请公布号为CN119624903A。

本申请公开获取板边光学点缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及图像检测领域。通过线扫相机扫描PNL物料板的全景图,从全景图中截取板边周围的光学点Mark图像;将Mark图像输入至缺陷检测模型,根据Mark点类型进行缺陷检测;确定Mark点的缺陷类型,根据缺陷类型从标签库中匹配缺陷标签,并输出缺陷识别结果。截取Mark图像输入至缺陷检测模型,可支持多输入小图并行检测,避免全景图识别消耗过多算力和识别进度不高的问题。对于切割的各个Mark图像,可根据训练号的模型进行更高精度的识别,逐个分子Mark点的缺陷类型并打标签后输出,实现定向检测输出,提高检测的良品率。

责编: 爱集微
来源:爱集微 #感图科技#
分享至:
THE END

*此内容为集微网原创,著作权归集微网所有,爱集微,爱原创

相关推荐
  • 工业人工智能企业感图科技完成C1轮融资,布局海外市场

  • 工业人工智能企业感图科技获数亿元C轮融资

  • 距离A+轮融资仅1个月,上海感图科技再获B轮融资

  • 加速AI产品在泛半导体领域研发迭代 感图科技获A+轮融资

  • 加速产品在泛半导体精密检测市场研发、落地,感图科技完成A轮融资

  • 让AI为SMT半导体检测赋能,感图科技获数千万元融资

评论

文明上网理性发言,请遵守新闻评论服务协议

登录参与评论

0/1000

提交内容
    没有更多评论
爱集微

微信:

邮箱:laoyaoba@gmail.com


11.1w文章总数
12012.5w总浏览量
最近发布
  • 告别BMS效率瓶颈!VGaN双向氮化镓芯片:能耗降低30%,寿命延长20%

    2小时前

  • 白宫官员:中国在AI模型领域或仅落后美国3-6个月

    3小时前

  • 智现未来全新一代FabSyn FDC来袭!异常监控更快、更准、更省!

    3小时前

  • 【批准】印度政府批准美光斥资1300亿卢比建立经济特区设施;台积电5月营收年增39.6%;联发科5月营收同比增长7.19%

    6小时前

  • 【投资】消息称本田将投资日本芯片制造商Rapidus;机构:第一季度AMD服务器营收份额达39.4%,创新高

    6小时前

最新资讯
  • 300+头部资本汇聚,芯力量科技成果转化论坛报名项目征集倒计时3周!

    28分钟前

  • 告别BMS效率瓶颈!VGaN双向氮化镓芯片:能耗降低30%,寿命延长20%

    2小时前

  • 织识智能完成数千万元A轮融资,小米独家投资

    2小时前

  • 分析师大会嘉宾巡礼丨Alexandre Del Rey:人工智能与半导体融合下的企业创新

    4小时前

  • 分析师大会嘉宾巡礼丨John Lee:欧洲半导体的中美竞合新策略

    4小时前

  • 白宫官员:中国在AI模型领域或仅落后美国3-6个月

    3小时前

关闭
加载

PDF 加载中...

集微logo
网站首页 版权声明 集微招聘 联系我们 网站地图 关于我们 商务合作 rss订阅

联系电话:

0592-6892326

新闻投稿:

laoyaoba@gmail.com

商务合作:

chenhao@ijiwei.com

问题反馈:

1574400753 (QQ)

集微官方微信

官方微信

集微官方微博

官方微博

集微app

APP下载

Copyright 2007-2023©IJiWei.com™Inc.All rights reserved | 闽ICP备17032949号

闽公网安备 35020502000344号