兆易创新“延时测试电路和探针结构”专利获授权

天眼查显示，兆易创新科技集团股份有限公司今日取得一项名为“延时测试电路和探针结构”的专利，授权公告号为CN222167160U，授权公告日为2024年12月13日，申请日为2024年3月5日。

本公开提供了一种延时测试电路和探针结构，涉及半导体技术领域。其中，延时测试电路包括：并联的两个测试支路，并联的两个测试支路中的一个包括第一输入端和第一输出端，并联的两个测试支路中的另一个包括第二输入端和第二输出端，第一输入端和第二输入端用于接收同一起振信号，第一输出端用于输出第一振荡信号，第二输出端用于输出第二振荡信号；相位检测器，相位检测器的输入端分别与第一输出端以及第二输出端连接，用于接收第一振荡信号和第二振荡信号，相位检测器的输出端用于输出第一振荡信号和第二振荡信号之间的相位差。通过本公开的技术方案，能够检测两个测试支路输出的交流信号的相位和频率的差异。