天眼查显示，比亚迪半导体股份有限公司“存储器测试方法、存储器测试装置、存储介质和电子设备”专利公布，申请公布日为2024年12月27日，申请公布号为CN119207534A。

本发明公开了一种存储器测试方法、存储器测试装置、存储介质和电子设备，所述存储器测试方法包括：遍历待测存储器的每个存储单元，在遍历过程中，按照预设行进规则对遍历到的目标存储单元以及与所述目标存储单元相邻的相邻存储单元进行数据读写操作；对所述目标存储单元的读取数据与所述相邻存储单元的读取数据进行逻辑运算，以获得实际逻辑关系值；若所述实际逻辑关系值与标准逻辑关系值不一致，则确定所述待测存储器存在故障，采用该方法可以通过实际逻辑关系值来检测到存储器的故障情况，测试算法的可靠性较高，同时兼顾故障覆盖率和测试复杂度，且故障测试效率较高。